(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 202211108081.8 (22)申请日 2022.09.13 (71)申请人 北京银联金卡科技有限公司 地址 100043 北京市石景山区实兴大街3 0 号院18号楼1层 (72)发明人 李彦昭　蒙万隆　马哲　尚可　 江俊伟　卢凯　芦佳伟　邢增辉　 陈劲松　尹少晨　 (74)专利代理 机构 北京北新智诚知识产权代理 有限公司 1 1100 专利代理师 刘利鹏 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G01R 31/00(2006.01) G06F 119/02(2020.01) (54)发明名称 用于RFID电子标签的可靠性增长方法 (57)摘要 本发明公开一种用于RFID电子标签的可靠 性增长方法， 包括： 步骤S1： 获取 RFID电子 标签的 全生命周期的任务剖面， 并根据每个所述任务内 容对应的实际环境应力绘制任务剖面曲线； 步骤 S2： 根据所述任务剖面曲线对应的测试条件对所 述RFID电子标签进行可靠性测试， 获取每个所述 任务内容对应的占比、 失效率以及影响系数； 步 骤S3： 基于所述占比、 失 效率以及影响系数， 获取 RFID电子标签的整体失 效率； 步骤S4定义失 效率 最高的任务剖面为薄弱点， 并根据薄弱点对应环 境应力对所述RFID电子标签进行优化； 步骤S5： 重复执行所述步骤S2至S4直至满足预设的条件。 本发明用于提高产品的可靠性。 权利要求书1页 说明书5页 附图2页 CN 115510630 A 2022.12.23 CN 115510630 A 1.一种用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特 征在于， 所述方法包括： 步骤S1： 获取RFID电子标签的全生命周期的任务内容， 并根据每个所述任务内容对应 的实际环境应力绘制任务剖面曲线； 步骤S2： 根据所述任务剖面曲线对应的测试条件对所述RFID电子标签进行可靠性测 试， 获取每 个所述任务内容对应的占比、 失效率以及影响系数； 步骤S3： 基于所述占比、 失效率以及影响系数， 获取RFID电子标签的整体失效率； 步骤S4定义失效率最高的任务剖面为薄弱点， 并根据薄弱点对应环境应力对所述RFID 电子标签进行优化； 步骤S5： 重复执 行所述步骤S2至S4 直至满足预设的条件。 2.如权利要求1所述的用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特征在在于， 所述全生 命周期包括 运输、 存储以及使用三个阶段； 在运输阶段， 所述RFID电子标签对应的环境应力 包括机械应力、 电磁应力和温度应力； 在存储阶段中， 所述 RFID电子标签对应的环境应力包括 温度应力作用； 在 使用阶段中， 所述 RFID电子标签对应的环境应力包括辐射应力、 静电应力、 温度应力和化学应力。 3.如权利要求2所述的用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特征在在于， 每个所述 任务剖面的前后均加入电应力。 4.如权利要求1所述的用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特征在在于， 获取所述 影响系数的步骤 包括： 根据所述可靠性测试对所述RFID电子标签的失效影响程度、 失效修正难度和失效可被 筛选程度进行评分； 将所述评分进行求和并进行归一 化处理得到所述影响系数。 5.如权利要求1所述的用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特征在在于， 所述步骤 S3包括： 按下式所示的方法获取 所述整体失效率： 其中， λn计算出整体产品失效率， αi为第i个任务剖面的占比， λi为第i个任务剖面失效 率， βi为第i个任务剖面的影响系数， m为任务剖面总数。 6.如权利要求1所述的用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 其特征在在于， 所述预设 条件包括： 当前整体失效率小于优化前整体失效率； 或， 当前整体失效率小于预设阈值； 或， 整体 失效率收敛。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 115510630 A 2用于RFID电子标签 的可靠性增长方 法 技术领域 [0001]本发明涉及射频识别技术领域， 具体涉及一种用于RFID电子标签的可靠性增长方 法。 背景技术 [0002]产品可靠性是全面质量管理所涉及的主要领域之一， 一个可靠的产品应该是在整 个使用或存储期间能够正确执行及保持功能的产品。 RFID电子标签会在 存储及使用过程中 经历多种复杂的环境， 一般的方法是按照国标或行标等类似标准中选取一些试验条件进 行 测试， 但是测试条件的选择往往与 RFID电子标签在实际环境中的情况有所差距， 无法完全 模拟出实际环境的复杂性和严 苛性， 同时， 测试的结果针对性较差也导致难以暴露薄弱点， 难以达到预期提高可靠性的目的。 发明内容 [0003]本发明的目的在于提供一种用于 RFID电子标签的可靠性增长方法， 旨在解决如何 有效筛选出产品的环境应力中薄弱点， 进 而有针对性进行产品改进， 提高产品的可靠性。 [0004]为了实现上述目的， 本发明采用如下技 术方方案： [0005]一种用于RFID电子标签的可靠性增长方法， 所述方法包括： [0006]步骤S1： 获取RFID电子标签的全生命周期的任务内容， 并根据每个所述任务内容 对应的实际环境应力绘制任务剖面曲线； [0007]步骤S2： 根据所述任务剖面曲线对应的测试条件对所述RFID电子标签进行可靠性 测试， 获取每 个所述任务内容对应的占比、 失效率以及影响系数； [0008]步骤S3： 基于所述占比、 失效率以及影响系数， 获取RFID电子标签的整体失效率； [0009]步骤S4定义失效率最高的任务剖面为薄弱点， 并根据薄弱点对应环境应力对所述 RFID电子标签进行优化； [0010]步骤S5： 重复执 行所述步骤S2至S4 直至满足预设的条件。 [0011]在一实施例中， 所述全生命周期包括 运输、 储存以及使用三个阶段； [0012]在运输阶段， 所述RFID电子标签对应的环境应力包括机械应力、 电磁应力和温度 应力； 在储存阶段中， 所述RFID电子标签对应的环境应力包括温度应力作用； 在使用阶段 中， 所述RFID电子标签对应的环境应力包括辐射应力、 静电应力、 温度应力和化学应力。 [0013]在一实施例中， 每 个所述任务剖面内容的前后均加入电应力。 [0014]在一实施例中， 获取 所述影响系数的步骤 包括： [0015]根据所述可靠性测试对所述RFID电子标签的失效影响程度、 失效修正难度和失效 可被筛选程度进行评分； [0016]将所述评分进行求和并进行归一 化处理得到所述影响系数。 [0017]在一实施例中， “基于所述占比、 失效率以及影响系数， 获取RFID电子标签的整体 失效率”得步骤包括：说　明　书 1/5 页 3 CN 115510630 A 3