(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221212049.X (22)申请日 2022.05.20 (73)专利权人 江苏汇成光电有限公司 地址 225128 江苏省扬州市邗江区扬州高 新技术产业开发区金荣路19号 (72)发明人 王雪梅　华丹丹　聂存香　韩慧　 杨爱平　吴展超　 (74)专利代理 机构 南京苏科专利代理有限责任 公司 32102 专利代理师 王峰 (51)Int.Cl. G01R 31/28(2006.01) G01R 1/04(2006.01) G01N 21/84(2006.01) G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 一种辅助分析电性测试不良品的治具 (57)摘要 本实用新型公开了半导体分析测试领域内 的一种辅助分析电性测试不良品的治具， 包括外 边框， 外边框中部设置有矩形安装槽， 安装槽内 对应设置有支撑板， 支撑板上设置有至少7道相 互平行的横向分隔线， 支撑板上还设置有至少1 道纵向分隔线， 纵向分隔线与横向分隔线相垂 直， 所述支撑板上经各纵向分隔线、 横向分隔线 等分为至少16个矩形放置区域， 支撑板的各相应 放置区域内均放置有两个待测试晶粒； 支撑板的 每个放置区域内均设有 标记检测数量的标号。 本 实用新型能够解决重复摆放需分析的IC晶粒浪 费时间， 且占用工显平台的问题， 不仅取放IC晶 粒方便， 而 且各晶粒紧密相邻， 方便查看分析。 权利要求书1页 说明书3页 附图2页 CN 217561662 U 2022.10.11 CN 217561662 U 1.一种辅助分析电性测试不良品的治具， 其特征在于， 包括外边框， 外边框 中部设置有 矩形安装槽， 安装槽内对应设置有支撑板， 支撑板上设置有至少7道相互平行的横向分隔 线， 支撑板上还设置有至少1道纵向分隔线， 纵向分隔线与横向分隔线相垂直， 所述支撑板 上经各纵向分隔线、 横向分隔线等分为至少16个矩形放置区域， 支撑板的各相应放置区域 内均放置有两个待测试晶粒； 支撑 板的每个放置区域内均设有标记检测数量的标号。 2.根据权利要求1所述的一种辅助分析电性测试不良品的治具， 其特征在于， 所述支撑 板上设置有 7道沿纵向等间隔分布的横向分隔线， 支撑板上设置有1道平分各横向分隔线的 纵向分隔线。 3.根据权利要求2所述的一种辅助分析电性测试不良品的治具， 其特征在于， 所述支撑 板第一列的八个放置区域依次纵向设有标号2、 标号4、 标号6、 标号8、 标号10、 标号12、 标号 14、 标号16； 支撑板第二列的八个放置 区域依次纵向设有标号18、 标号20、 标号22、 标号24、 标号26、 标号28、 标号3 0、 标号32。 4.根据权利要求1 ‑3任一项所述的一种辅助分析电性测试不良品的治具， 其特征在于， 所述外边框呈矩形， 外边框的安装槽的四个内壁均设置有安装台阶， 支撑板下侧的四边分 别支撑在对应安装台阶上， 支撑 板下侧与安装台阶粘接固定， 支撑 板的材质为塑料。 5.根据权利要求1 ‑3任一项所述的一种辅助分析电性测试不良品的治具， 其特征在于， 所述外边框上侧设置有围成矩形的防滑遮挡凸起， 外边框的材质为塑料。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217561662 U 2一种辅助分析电性测试不良品的 治具 技术领域 [0001]本实用新型属于半导体分析测试领域， 特别涉及 一种辅助分析电性测试不良品的 治具。 背景技术 [0002]COF产品在生产过程中， 都要进行电性测 试， 防止电性不良品续流到下一道工序。 电性测试出的不良产品需要进一步分析不良的原因和缺陷， 现有技术中分析不良IC产品 时， 人员需将分析的样品逐颗放置到工显平台上， 对晶体外观进行分析， 其弊端在于： 1.人 员手动将需分析晶粒放置工显平台上， 平台长期频繁移动， 会加快平台损坏； 2.样品分析结 束， 需要逐颗将晶粒取下， 准备放置下一生产批样品， 取下 的过程耗时较长， 影响正常工作 效率； 3.分析过程若中断， 需要重新摆放， 会增加分析样 品摆放次数； 4.  仅能单人作业， 他 人无法协助作业。 实用新型内容 [0003]本实用新型的目的是提供一种辅助分析电性测试不良品的治具， 能够 解决重复摆 放需分析的IC晶粒浪费时间， 且占用工显平台的问题， 不仅取放IC晶粒方便， 而且各晶粒紧 密相邻， 方便查看分析。 [0004]本实用新型的目的是这样实现的： 一种辅助分析电性测试不良品的治具， 包括外 边框， 外边框中部设置有矩形安装槽， 安装槽内对应设置有支撑板， 支撑板上设置有至少7 道相互平行的横向分 隔线， 支撑板上还设置有至少1道纵向分 隔线， 纵向分隔线与横向分隔 线相垂直， 所述支撑板上经各纵向分 隔线、 横向分 隔线等分为至少16个矩形放置区域， 支撑 板的各相应放置区域内均放置有两个待测试晶粒； 支撑板的每个放置区域内均设有标记检 测数量的标号。 [0005]本实用新型用于放置 晶粒， 便于在显微镜下分析查看电性测试不良的原因， 使用 时， 用治具承接晶体， 产品在各放置区域放置紧密方便观看分析， 不会浪费时间； 用治具承 接晶体， 产品分析完成直接将晶粒收起来， 不需要人员一个一个拿， 节省时间； 可让他人协 助将需分析的晶粒样品提前摆好； 放置带有编号的承接治具， 快速简洁知道分析数量， 做更 好的异常分析。 与现有技术相比， 本实用新型的有益效果在于： 1.分析样品时， 将样品放承 接盘上， 再放置到显微镜平台上， 节约时间； 2.此晶体承接盘治具可循环使用， 带有数字编 号， 便于记录对应生产批分析数量； 3.此晶体承接盘治具可循环使用， 操作方便。 本实用新 型用于完成COF段电性测试不良晶粒产品分析。 [0006]作为本实用新型的进一步改进， 所述支撑板上设置有7道沿纵向等间隔分布的横 向分隔线， 支撑 板上设置有1道 平分各横向分隔线的纵向分隔线。 [0007]作为本实用新型的进一步改进， 所述支撑板第一列的八个放置区域依次纵向设有 标号2、 标号4、 标号6、 标号8、 标号10、 标号12、 标号14、 标号16； 支撑板第二列的八个放置 区 域依次纵向设有标号18、 标号20、 标号22、 标号24、 标号26、 标号28、 标号30、 标号32。 晶体承说　明　书 1/3 页 3 CN 217561662 U 3