(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202221261870.0 (22)申请日 2022.05.24 (73)专利权人 深圳宇骏 视觉智能科技有限公司 地址 518000 广东省深圳市光明区凤 凰街 道塘尾社区南太云创谷4栋90 5-906室 (72)发明人 刘骏　张啸宇　 (74)专利代理 机构 深圳市龙成联合专利代理有 限公司 4 4344 专利代理师 陈蓉 (51)Int.Cl. G01B 11/00(2006.01) G01N 21/01(2006.01) G01N 21/84(2006.01) (54)实用新型名称 旋转式回转体 器件全表面检测光学系统 (57)摘要 本实用新型公开了旋转式回转体器件全表 面检测光学系统， 包括机架、 以及设于机架上的 第一检测机构、 第二检测机构、 第三检测机构、 第 四检测机构、 第五检测机构和第六检测机构， 机 架在电子 元件移动方向上设有第一检测工位、 第 二检测工位、 第三检测工位和第四检测工位， 第 一检测机构设于第一检测工位旁， 第二检测机构 设于第二检测工位旁， 第三检测机构为若干个， 各第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔 设置， 第四检测机构设于第三检测工位下方， 所 述第五检测机构设于第四检测工位的周侧旁， 第 六检测机构设于第四检测工位上方。 其通过设于 各检测工位旁的若干检测机构， 实现电子元件移 动过程中的多角度检测， 检测精度高。 权利要求书2页 说明书5页 附图5页 CN 217504674 U 2022.09.27 CN 217504674 U 1.旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 用于检测电子元件的外表面， 其特征在于， 包括机架、 以及设于所述机架上的第一检测机构、 第二检测机构、 第三检测机构、 第四检测 机构、 第五检测机构和第六检测机构， 所述机架在电子元件的移动方向上依 次设有第一检 测工位、 第二检测工位、 第三检测工位和第四检测工位， 所述第一检测机构， 其设于第一检测工位的周侧旁， 可在水平方向上获取移经第一检 测工位的电子元件的图像； 所述第二检测机构， 其设于第二检测工位的周侧旁， 可在与竖直面呈夹角的方向上获 取移经第二检测工位的电子元件的图像； 所述第三检测机构为若干个， 各所述第三检测机构在第三检测工位的周侧上间隔设 置， 各所述第三检测机构可在水平方向上获取移经第三检测工位的电子元件的图像； 所述第四检测机构， 其设于第三检测工位下方， 可在竖直面上自下而上获取移经第三 检测工位的电子元件的图像； 所述第五检测机构， 其设于第 四检测工位的周侧旁， 可在水平方向上获取移经第 四检 测工位的电子元件的图像； 所述第六检测机构， 其设于第 四检测工位上方， 可在竖直面上自上而下获取移经第 四 检测工位的电子元件的图像。 2.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 一检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第一支撑柱、 可沿所述第一支撑柱上下滑动的 第一滑座以及设于所述第一滑座上的第一摄 像头； 所述第二检测机构包括设置在所述机架上的第 二支撑柱、 可沿所述第 二支撑柱上下移 动的第二滑座以及转动连接在所述第二滑座上的第二摄 像头； 所述第三检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第 三支撑柱、 可沿所述第 三支撑柱 上下滑动的第三滑座以及设于所述第三滑座上的第三摄 像头； 所述第四检测机构包括设置在所述机架下侧的第四支撑柱、 以及 设置在所述第四支撑 柱上的第四摄像头， 所述机架于所述第四摄像头的上方开设有至少部 分与所述第四摄像头 相对的透光 通孔； 所述第五检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第五支撑柱、 可沿所述第五支撑柱 上下滑动的第五滑座以及设于所述第五滑座上的第五摄 像头； 所述第六检测机构包括自所述机架竖直向上延伸的第六支撑柱、 可沿所述第六支撑柱 上下滑动的第六滑座、 可沿所述第六滑座左右滑动的第七支撑柱以及设于所述第七支撑柱 上的第七摄 像头。 3.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 一支撑柱上设有上 下延伸的第一 量尺； 和/或所述第二支撑柱上设有上 下延伸的第二 量尺； 和/或所述第三支撑柱上设有上 下延伸的第三 量尺； 和/或所述第五支撑柱上设有上 下延伸的第五量尺； 和/或所述第六支撑柱上设于上 下延伸的第六量尺； 和/或所述第七支撑柱上设于左右延伸的第七量尺。 4.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第权　利　要　求　书 1/2 页 2 CN 217504674 U 2二摄像头上设有调节杆， 所述第二滑座上开设有供所述调节杆伸入的第一调节通孔、 以及 自所述第一调节通孔内壁延伸至所述第二滑座外周侧的第一调节槽， 所述第二滑座于所述 第一调节槽上设有将所述调节杆锁紧在所述第一调节通 孔内的第一锁紧杆。 5.根据权利要求2所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 六滑座上开设有 供所述第六支撑柱伸入的第二调节通孔、 供所述第七支撑柱伸入的第三调 节通孔、 自所述第二调节通孔内壁延伸至所述第六滑座外周侧的第二调节槽、 以及自所述 第三调节通孔内壁延伸至所述第六滑座外周侧的第三调节槽， 所述第六滑座于所述第二调 节槽上设有将所述第六支撑柱锁紧在所述第二调节通孔内的第二锁紧杆， 所述第六滑座于 所述第三调节槽上设有将所述第七支撑柱 锁紧在所述第三调节通 孔内的第三锁紧杆。 6.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 二检测机构为2个， 两所述第二检测机构分 设在第二检测工位的相对两侧。 7.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 五检测机构为2个， 两所述第五检测机构分 设在第四检测工位的相对两侧。 8.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 各所述 第三检测机构在第三检测工位的周侧方向上等距分布， 任两相邻的所述第三检测机构朝第 三检测工位投射的光束的夹角为6 0°。 9.根据权利要求1所述的旋转式回转体器件全表面检测光学系统， 其特征在于， 所述第 一检测机构下端设有第一底座， 所述第一底座上开设有第一长孔， 所述第一长孔内设有可 沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第一紧固件， 所述第一紧固件沿所述第一长孔滑动 时所述第一检测机构移动靠 近或远离第一检测工位； 和/或所述第 二检测机构下端设有第 二底座， 所述第 二底座上开设有第 二长孔， 所述第 二长孔内设有 可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第二紧固件， 所述第二紧固件沿所 述第二长孔滑动时所述第二检测机构移动靠 近或远离第二检测工位； 和/或所述第 三检测机构下端设有第 三底座， 所述第 三底座上开设有第 三长孔， 所述第 三长孔内设有 可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第三紧固件， 所述第三紧固件沿所 述第三长孔滑动时所述第三检测机构移动靠 近或远离第三检测工位； 和/或所述第五检测机构下端设有第五底座， 所述第五底座上开设有第五长孔， 所述第 五长孔内设有 可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第五 紧固件， 所述第五紧固件沿所 述第五长孔滑动时所述第五检测机构移动靠 近或远离第四检测工位； 和/或所述第六检测机构下端设有第六底座， 所述第六底座上开设有第六长孔， 所述第 六长孔内设有 可沿其滑动并可将其锁紧在所述机架上的第六紧固件， 所述第六紧固件沿所 述第六长孔滑动时所述第六检测机构移动靠 近或远离第四检测工位。权　利　要　求　书 2/2 页 3 CN 217504674 U 3