(19)国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告 号 (45)授权公告日 (21)申请 号 202123303185.8 (22)申请日 2021.12.24 (73)专利权人 杭州长川科技股份有限公司 地址 310051 浙江省杭州市滨江区 聚才路 410号 (72)发明人 陆人杰　陈健　 (74)专利代理 机构 杭州华进联浙知识产权代理 有限公司 3 3250 专利代理师 安威威 (51)Int.Cl. G01N 21/01(2006.01) (54)实用新型名称 物料状态检测装置 (57)摘要 本实用新型涉及一种物料状态检测装置， 其 能够有效地检测待测物料的状态， 提高后续的测 试效率。 该物料状态检测装置， 包括： 料梭组件， 其中该料梭组件包括料梭基台、 被 设置于该料梭 基台的驱动机构以及被可活动地设置于该料梭 基台的料梭盘， 并且该料梭盘被可驱动地连接于 该驱动机构， 用于在该料梭基台上运输待测物 料； 和传感器组件， 其中该传感器组件包括被设 置于该料梭基台的位移传感器， 并且 该位移传感 器位于该料梭盘的运输 路径的上方， 用于在该料 梭盘被该驱动机构驱动以运输该待测物料至该 位移传感器的感应区， 测量该待测物料的距离信 息， 以通过该距离信息判断该待测物料在该料梭 盘上的状态。 权利要求书1页 说明书8页 附图4页 CN 217156256 U 2022.08.09 CN 217156256 U 1.物料状态检测装置， 其特 征在于， 包括： 料梭组件， 其中所述料梭组件包括料梭基台、 被设置于所述料梭基台的驱动机构以及 被可活动地设置于所述料梭基台的料梭盘， 并且所述料梭盘被可驱动地连接于所述驱动机 构， 用于在所述料梭基台上运输待测物料； 和 传感器组件， 其中所述传感器组件包括被设置于所述料梭基台的位移传感器， 并且所 述位移传感器位于所述料梭盘的运输路径的上方， 用于在所述料梭盘被所述驱动机构驱动 以运输该待测物料至所述位移传感器的感应区， 测量该待测物料 的距离信息， 以通过该距 离信息判断该待测物料在所述料梭盘上的状态。 2.如权利要求1所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述料梭盘具有多个用于盛载 该待测物料的盛载槽， 并且多个所述盛载槽沿着所述料梭盘的运输路径被间隔地 排布。 3.如权利要求2所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述料梭盘进一步具有对应于 所述位移传感器的基准槽， 并且所述基准槽沿着所述料梭盘的运输路径依次连通多个所述 盛载槽。 4.如权利要求3所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述料梭盘的所述基准槽对准 于所述盛载槽的中心区域。 5.如权利要求1所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述物料状态检测装置用于根 据经由所述 位移传感器测量的距离变化曲线， 确定该待测物料的具体 状态。 6.如权利要求2至4中任一项所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述传感器组件 进一步包括被设置于所述料梭基台的对射型光电传感器， 其中所述对射型光电传感器的发 射端和接收端分别位于所述料梭盘的相对两侧， 并且所述料梭盘设有贯穿所述盛载槽的透 光槽。 7.如权利要求1至5中任一项所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述料梭组件进 一步包括被安装于所述料梭基台的导轨， 其中所述导轨沿着所述料梭盘的运输路径延伸， 并且所述料梭盘 被可滑动地设置 于所述导轨。 8.如权利要求7所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述料梭组件的所述驱动机构 包括驱动电机和传动带轮， 其中所述驱动电机被安装于所述料梭基台， 并且所述传动带轮 可传动地连接 于所述驱动电机和所述料梭盘。 9.如权利要求7所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述传感器组件进一步包括安 装门架， 其中所述安装门架被安装于所述料梭基台， 且跨越所述导轨， 以将所述位移传感器 悬置于所述导轨的上 方。 10.如权利要求1至5 中任一项所述的物料状态检测装置， 其特征在于， 所述物料状态检 测装置进一步包括警报装置， 其中所述警报装置可通信地连接于所述传感器组件， 用于在 所述传感器组件检测到该待测物料存在异常状态时发出警报。权　利　要　求　书 1/1 页 2 CN 217156256 U 2物料状态检测装 置 技术领域 [0001]本实用新型涉及集成电路测试分选技术领域， 特别是涉及一种物料状态检测装 置。 背景技术 [0002]芯片技术作为现代电子信息产业的基础和核心， 小到手机、 电脑以及数码相机， 大 到5G、 物料网以及云计算， 全都是基于 芯片技术的不断突破。 而芯片的封装测试作为芯片生 产过程中非常重要的一个环节， 其是保证芯片品质和 生产效率的关键技术。 在芯片生产出 来之后， 通常需要通过分选机与测试机进行测试以判断芯片品质， 而料梭就是在这个环节 中运输芯片不可或缺的部分。 但芯片在经由机械手分选以放入料梭的过程中可能会产生翘 料和/或叠料问题， 如果不能对其进行检测校正， 不仅会因测试机压坏芯片而造成经济损 失， 而且还会大大降低后续的测试效率和准确性。 [0003]现有的技术方案通常是在料梭上设置透光槽， 并在料梭的左右两侧对应地设置传 感器的发射端和接收端， 以在水平方向上检测料梭内盛载的芯片是否发生翘料问题。 例如， 当芯片未发生翘料时， 此时透光槽内光路连通， 光电开关的接 收端能够接 收到发射端所发 射的光信号； 而当芯片发生翘料以遮挡该透光槽时， 该透光槽内的光路不通， 光电开关的接 收端将无法接收到发射端 所发射的光信号， 即光电开关的接收信号异常， 发出报警， 并在人 工干预后继续下一 步操作。 [0004]然而， 当芯片不遮挡该透光槽时， 就算该芯片发生翘料， 该透光槽内的光路仍然连 通， 使得该光电开关的接收端仍能够接收到发射端 所发射的光信号， 也就是说， 上述技术方 案无法有效检测到芯片的特殊角度翘料， 容 易造成经济损失， 降低后续的测试效率。 实用新型内容 [0005]本实用新型的一优势在于提供一种物料状态检测装置， 其能够有效地检测待测物 料的状态， 提高后续的测试效率。 [0006]本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置， 其中， 在本实用新型的 一实施例中， 所述物料状态检测装置能够 采用位移传感器在竖直方向上检测待测物料的距 离变化， 以有效地检测待测物料的特殊角度翘料。 [0007]本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置， 其中， 在本实用新型的 一实施例中， 所述物料状态检测装置能够区分所检测到的异常情况是属于翘料情况， 还是 叠料或缺料情况， 以便进行相应的处 理， 提高处 理效率。 [0008]本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置， 其中， 在本实用新型的 一实施例中， 所述物料状态检测装置能够在不影响料梭输送的情况下， 对所述料梭盛载 的 该待测物料进行状态检测， 有助于提高工作效率， 确保后续工序的正常进行。 [0009]本实用新型的另一优势在于提供一种物料状态检测装置， 其中为了达到上述目 的， 在本实用新型中不需要采用昂贵的材料或复杂的结构 。 因此， 本实用新型成功和有效地说　明　书 1/8 页 3 CN 217156256 U 3