(19)中华 人民共和国 国家知识产权局
(12)发明 专利申请
(10)申请公布号
(43)申请公布日
(21)申请 号 202111662252.7
(22)申请日 2021.12.3 0
(71)申请人 天合 (无锡) 仪 器有限公司
地址 214028 江苏省无锡市新吴区清源路
20号立业楼B503
(72)发明人 于天河 戴景民
(74)专利代理 机构 哈尔滨华夏松花江知识产权
代理有限公司 23213
代理人 杨晓辉
(51)Int.Cl.
G06F 30/20(2020.01)
G06F 17/10(2006.01)
G01J 5/00(2022.01)
(54)发明名称
多光谱辐射温度计测量数据处 理方法
(57)摘要
多光谱辐射 温度计测量数据处理方法, 解决
了现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对
少数材料适合的问题, 属于光谱 数据处理技术领
域。 本发明的一种多光谱辐射 温度计测量数据处
理方法, 所述方法包括: S1、 获取多 光谱辐射温度
计的测量数据xk和对应的真实温度yk; S2、 根据
xk, yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合, 获得残余误差平
方和Q; S3、 去掉第m次项, 用y=a0+a1x+…+am‑
1xm‑1进行拟合, 获得残余误差平方和Q ′; S4、 根据
Q和Q′, 获取方差比Fm, 判断Fm是否大于临界值
Fα, 若是, m=m+1, 转入S2, 否则, 根据当前m的取
值, 采用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1作为多光谱辐射
温度计的测量数据的拟合曲线 模型。
权利要求书1页 说明书5页 附图1页
CN 114329990 A
2022.04.12
CN 114329990 A
1.多光谱辐射温度计测量数据处 理方法, 其特 征在于, 所述方法包括:
S1、 获取多光谱辐 射温度计的测量数据xk和对应的真实温度yk, k=1,…,n, n表示多光
谱辐射温度计的测量数据的数量;
S2、 根据xk,yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合, a0,a1,…am为拟合中的系数, 获得残余误差方
程, 进行等效, 得到
组成方程组:
其中,
为a0,a1,…am的拟合值,
m的初始值为2,
表示n个yk的平均值,
表示n
个xk的平均值, vk表示正则化项, i∈(2, …,m), j∈(2, …,m), Q表示残余误差平方和,
S3、 去掉第m次项amxm, 用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1采集S2的方式进行拟合, 获得残余误差平
方和Q′,
S4、 根据Q和Q ′, 获取方差比
判断Fm是否大于临界值Fα, 若是, m=m+
1, 转入S2, 否则, 根据当前m的取值, 采用y= a0+a1x+…+am‑1xm‑1作为多光谱辐射温度计的测
量数据的拟合曲线模型。
2.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法, 其特征在于, 所述临界
值Fα遵从自由度为1和n ‑m‑1的F分布, 是由统计表查出 F分布的理论临界值。
3.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法, 其特征在于, S2中, 残
余误差方程 为:
4.根据权利要求1所述的多光谱辐射温度计测量数据处理方法, 其特征在于, S2中,
权 利 要 求 书 1/1 页
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CN 114329990 A
2多光谱辐射温度计测量数据处理 方法
技术领域
[0001]本发明涉及一种多光谱辐射测量数据处 理方法, 属于光谱数据处 理技术领域。
背景技术
[0002]对于多光谱辐射温度计的数据处理, 均使用最小二乘法, 这必须要假设发射率与
波长的函数关系, 否则无法求解。 当假设模型与实际情况相符时, 通过计算得到的物体真实
温度和材料发射率会与实际情况符合得很好; 当二者不一致时, 通过计算得到的物体真实
温度和材料发射率会与实际情况差别甚大。 现有多光谱算法都是假定发射率 ε和波长x的关
系:lnε=a+bx或lnε=a0+a1x+…+anxn, 这两种假定关系只对少数材料适合, 可以解算真实
温度, 具有较高的精度, 而不 适用其他材料。
发明内容
[0003]针对现有多光谱辐射温度计的数据处理方法只对少数材料适合的问题, 本发明提
供一种适用大多数 材料的多光谱辐射温度计测量数据处 理方法。
[0004]本发明的一种多光谱辐射温度计测量数据处 理方法, 所述方法包括:
[0005]S1、 获取多光谱辐射温度计的测量数据xk和对应的真实温度 yk, k=1,…,n, n表示
多光谱辐射温度计的测量数据的数量;
[0006]S2、 根据xk,yk用y=a0+a1x+…+amxm拟合, a0,a1,…am为拟合中的系数, 获得残余误
差方程, 进行等效, 得到
组成方程组:
[0007]
[0008]
[0009]……
[0010]
[0011]
[0012]其 中 ,
为 a0,a1,…am的 拟 合 值 ,
m的初始值为2,
表示n个yk的平均值,
表示n
个xk的平均值, vk表示正则化项, i∈(2, …,m), j∈(2, …,m), Q表示残余误差平方和,
[0013]S3、 去掉第m次项amxm, 用y=a0+a1x+…+am‑1xm‑1采集S2的方式进行拟合, 获得残余
误差平方和Q ′,
说 明 书 1/5 页
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专利 多光谱辐射温度计测量数据处理方法
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