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ICS 31.140 CCS L 21 中华人民共和国国家标准 GB/T22319.6—2023/IEC60444-6:2021 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量 Measurement of quartz crystal unit parameters- Part 6:Measurement of drive level dependence (DLD) (IEC60444-6:2021,IDT) 2023-09-07发布 2024-01-01实施 国家市场监督管理总局 发布 国家标准化管理委员会 GB/T22319.6—2023/IEC60444-6:2021 目 次 前言 引言 范围 2 规范性引用文件 3 术语和定义 DLD效应. 4.1 额率和电阻的可逆变化 4.2 额率和电阻的不可逆变化 4.3DLD效应的原因 5DLD测量的激励电平 试验方法.. 6.1方法A(快速标准测量方法) 方法B(多电平基准测量方法) 附录A(规范性) 石英晶体元件的激励电平和机械位移之间的关系 附录B(规范性) 方法C:使用振荡器法测量DLD 参考文献 12 图1 电阻R1或R1s随激励电平相关性变化的最大允许电阻比 图B.1 振荡器中的晶体元件的接 图B.2 晶体元件损耗电阻随耗散功率的变化关系 图B.3 石英晶体元件R,的特性 图 B.4 电路系统方框图 图B.5 在扫描激励电平范围内建立的一R .....10 图B.6 在本附录试验中将一R=70α作为试验限值时石英晶体元件的激励电平特性 图B.7
GB-T 22319.6-2023 石英晶体元件参数的测量 第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量
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