ICS 31.140 L 21 中华人民共和国国家标准 GB/T22319.8-—2008/IEC60444-8:2003 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件 用测量夹具 Measurement of quartz crystal unit parameters- Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2003,IDT) 2008-08-06发布 2009-01-01实施 中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 发布 数码防伪 中国国家标准化管理委员会 GB/T22319.8—2008/IEC60444-8:2003 前言 GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分： 第1部分：用型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法； -第2部分：测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法； 第3部分：利用有并电容C。补偿的元型网络相位法测量频率达200MHz的石英晶体元件两 端网络参数的基本方法； 一第4部分：频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻RL的测量方法及其他 导出参数的计算； 第5部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法； 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量； -第7部分：石英晶体元件活力和频率降的测量； 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具； 第9部分：石英晶体元件寄生谐振的测量。 本部分为GB/T22319的第8部分。 本部分等同采用IEC60444-8:2003《石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件 用测量夹具》（英文版）。 为便于使用，本部分作了下列编辑性修改： a) 删除国际标准的前言； b) 删除国际标准的引言； ( 将本部分的各图集中到正文最后； d）将原文6.1第二段中“50士5%”改为“50×（1±5%)α”。 本部分由中华人民共和国信息产业部提出。 本部分由全国频率控制和选择用压电器件标委会归口。 本部分起草单位：中国电子元件行业协会压电晶体分会。 本部分主要起草人：章怡、姜连生。 I